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Polysilizium-Heaterstrukturen für den Einsatz in hochbeschleunigten Zuverlässigkeitstests auf Waferebene [German]
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Bachelorarbeit aus dem Jahr 2011 im Fachbereich Elektrotechnik, Note: 1, Hochschule Mittweida (FH) (Elektro- und Informationstechnik), Sprache: Deutsch, Abstract: Diese Bachelorarbeit soll die Grundlage f r hochbeschleunigte Zuverl ssigkeitstests auf Waferebene unter Verwendung von In-Situ-Heizelementen aus polykristallinem Silizium bilden. Nach einer Einf hrung in die Zuverl ssigkeitstheorie wird eine Auswahl an Zuverl ssigkeitstest vorgestellt...
Format:Paperback
Language:German
ISBN:3656276706
ISBN13:9783656276708
Release Date:September 2012
Publisher:Grin Verlag
Length:78 Pages
Weight:0.25 lbs.
Dimensions:0.2" x 5.8" x 8.3"
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